Ключевые слова: сверхкритическая вода, наночастицы, оксид индия, диоксид циркония, льюисовская кислотность
Методами рентгенофазового анализа (РФА), КР- и ИК-спектроскопии диффузного отражения проведен сравнительный анализ физико-химических свойств поверхности индий-циркониевых оксидных нанокристаллических систем, полученных в сверхкритической воде и по традиционной методике соосаждения. Поверхность оксидных систем, приготовленных в сверхкритической воде, более устойчива к воздействию внешних факторов, чем полученных соосаждением. Отмечено увеличение основности поверхности с ростом концентрации In2O3 в оксидной системе In2O3-ZrO2.